掃描電鏡SEM
??電子束電流范圍:?1?pA?-?400?nA
??加速電壓:?200?V?–?30?kV
??著陸能量范圍:?20?eV?–?30?keV
? 水平視場寬：10?mm?工作距離下為?3.0?mm（對應于?最小放大倍率?x29）
??10mm?分析工作距離?1kV?時電子束分辨率:?1nm
??輕松安裝和維護的電子槍?–?自動烘烤、自動啟動、無需機械合軸
??保證的最短燈絲壽命：24個月
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??電子束電流范圍:?1?pA?-?400?nA
??加速電壓:?200?V?–?30?kV
??著陸能量范圍:?20?eV?–?30?keV
? 水平視場寬：10?mm?工作距離下為?3.0?mm（對應于?最小放大倍率?x29）
??10mm?分析工作距離?1kV?時電子束分辨率:?1nm
??輕松安裝和維護的電子槍?–?自動烘烤、自動啟動、無需機械合軸
??保證的最短燈絲壽命：24個月
Thermo Scientific? Apreo SEM 具有廣泛地適用性，可以在較短時間內為材料研究人員提供卓越的成像質量。
當 Apreo 的電子束打開，形貌和成分襯度可以同時被鏡筒內探測系統(tǒng)呈現(xiàn)：無需繁瑣操作，即可快速探索并獲取樣品各方面信息。在高放大倍率下，Apreo 的長工作距離（如 10mm 分析工作距離）也能表現(xiàn)出杰出的分辨性能。即使在絕緣、電子束敏感或磁性的材料上，Apreo的用戶界面也可以高效地引導操作者獲得表征該納米結構的參數(shù)條件。 Apreo 能在短時間內解決錯綜復雜的研究問題，適用于需要多功能以及多用戶操作的應用場合。
Apreo 是研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，其創(chuàng)新的末級透鏡設計，絲毫不會降低對磁性樣品的分辨能力。 靜電式末級透鏡（Apreo C 和 Apreo S）能夠實現(xiàn)鏡筒內多種信號的同時探測和高分辨率，而 Apreo S 則結合靜電、浸沒式磁場的復合透鏡以進一步提高低電壓下的分辨率，在 1 kV加速電壓下的分辨率為 1.0 nm，不需要電子束減速。通過將浸沒式磁透鏡和靜電透鏡組合還可以實現(xiàn)特有的信號過濾功能。
Apreo 擁有透鏡內背散射探測器 T1，其位置緊靠樣品，確保在較短的時間內獲得大量的采集信號。與其他背散射探測器不同，這種快速的探測器在導航時、傾斜時或工作距離很短時能夠始終保持良好的材料襯度。在表征敏感樣品時，探測器的優(yōu)越性能尤為突出，即使電流低至幾 pA，它也能提供清晰的背散射圖像。Apreo S 復合末級透鏡通過能量過濾實現(xiàn)高質量的材料襯度以及絕緣樣品的無電荷成像，進一步提高了 T1 BSE 探測器的使用價值。Apreo 還提供了受歡迎的選配探頭來補充其探測能力，例如定向背散射探測器(DBS)、STEM 3+ 和低真空氣體分析探測器(GAD)。所有這些探測器都擁有獨一的軟件控制分割功能，以便根據(jù)需求選擇有價值的樣品信息。
每個 Apreo 都按標準配備各種用以處理絕緣樣品的策略，包括：高真空技術，例如 SmartSCAN?、漂移補償幀積分(DCFI) 和電荷過濾。對于具有挑戰(zhàn)性的應用，Apreo 可提供電荷緩解策略。其中包括可選的低真空（高為 500 Pa）策略，通過經現(xiàn)場驗證的穿鏡式差分抽氣機構和專用低真空探測器，不但可以緩解任何樣品上的電荷，還能提供好的分辨率和較大的分析電流。
隨著分析技術的使用越來越常規(guī)化，Apreo 倉室經過全新設計，以便更好地支持不同的配件和實驗。倉室最多容納三個 EDS/WDS 端口，可實現(xiàn)快速敏感的 X 射線測量、共面 EDS/EBSD/TKD 排列并與（冷凍）CL、拉曼、 EBIC 和其他技術兼容。所有這些功能都能通過簡單的樣品處理和熟悉的 xT UI 獲得，節(jié)省了新用戶和專家級用戶的時間?？勺远x的用戶界面提供了諸多用戶指導、自動化和遠程操作選項。通過所有這些優(yōu)勢（包括復合末級透鏡、高級探測和靈活樣品處理）， Apreo 可提供出色的性能和多功能性，幫助您應對未來多年的研究難題。
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